Home
page
Other articles
in this issue |
Reinvestigation of
piezooptic anisotropy appearing in a crystalline disk loaded along its
diameter
Savaryn V., Krupych O., Skab I. and Vlokh R.
Download this
article
Abstract. In order to correct the errors present in our recent
study (Savaryn V. et al. Ukr. J. Phys. Opt. 13 (2012) 82), we have
re-derived the main phenomenological relations describing the changes in
optical anisotropy of crystalline disks loaded along their diameters. Basing
on the analysis of these relations, we have developed an improved technique
for determining the piezooptic coefficients p44,
p55
and p66 for the crystals of almost
all of the point symmetry groups. The technique is based on studying the
spatial distributions of optical birefringence and optical indicatrix rotation
angle induced along the chords and diameters of a crystalline disk compressed
along its diameter.
Keywords: piezooptic effect, 2D stress state,
crystals, crystalline disk
PACS: 78.20.Hp, 78.20.Ci
UDC: 535.55+53.082.5
Ukr. J. Phys. Opt.
15 84-95
doi: 10.3116/16091833/15/2/84/2014
Received: 26.03.2014
Анотація. З метою виправлення помилок,
присутніх у нашій попередній роботі (Savaryn
V. et al. Ukr. J. Phys. Opt. 13 (2012) 82), ми повторно одержали
основні феноменологічні співвідношення,
що описують зміну оптичної анізотропії
стиснутого вздовж діаметра кристалічного
диска. На основі аналізу цих співвідношень
представлено вдосконалений метод визначення
п’єзооптичних коефіцієнтів p44,
p55
і p66 для кристалів
майже всіх груп симетрії. Метод базується
на дослідженні просторового розподілу
індукованих оптичного двозаломлення і
кута повороту оптичної індикатриси вздовж
хорд і діаметрів кристалічного диска, стиснутого
вздовж його діаметра. |
|
REFERENCES
-
Narasimhamurty T S, Photoelastic and electrooptic properties of crystals.
N. Y.: Plenum Press (1981). doi:10.1007/978-1-4757-0025-1
-
Skab I, Smaga I, Savaryn V, Vasylkiv Yu and Vlokh R, 2011. Torsion method
for measuring piezooptic coefficients. Cryst. Res. Technol. 46: 23–36.
doi:10.1002/crat.201000495
-
Vasylkiv Y, Savaryn V, Smaga I, Skab I and Vlokh R, 2011. On determination
of sign of the piezooptic coefficients using torsion method. Appl. Opt.
50: 2512–2518. doi:10.1364/AO.50.002512
-
Krupych O, Savaryn V and Vlokh R, 2014. Precise determination of full matrix
of piezo-optic coefficients with a four-point bending technique: the example
of lithium niobate crystals. Appl. Opt. 53: B1–B7. doi:10.1364/AO.53.0000B1
-
Savaryn V, Skab I, Krupych O and Vlokh R, 2012. The method for measuring
piezooptic coefficients of crystals using a crystalline disk loaded along
its diameter. Ukr. J. Phys. Opt. 13: 82–123. doi:10.3116/16091833/13/2/82/2012
-
Frocht M M, Photoelasticity. N. Y.: John Wiley (1946).
-
Ajmera P K, Huner B, Dutta A K and Hartley C S, 1988. Simulation and observation
of infrared piezobirefringent images in diametrically compressed semiconductor
disks. Appl. Opt. 27: 752–757. doi:10.1364/AO.27.000752
(c) Ukrainian Journal
of Physical Optics |