Ukrainian Journal of Physical Optics 

Home page
 
 

Other articles 

in this issue
Reinvestigation of piezooptic anisotropy appearing in a crystalline disk loaded along its diameter

Savaryn V., Krupych O., Skab I. and Vlokh R.

Download this article

Abstract. In order to correct the errors present in our recent study (Savaryn V. et al. Ukr. J. Phys. Opt. 13 (2012) 82), we have re-derived the main phenomenological relations describing the changes in optical anisotropy of crystalline disks loaded along their diameters. Basing on the analysis of these relations, we have developed an improved technique for determining the piezooptic coefficients  p44, p55 and p66 for the crystals of almost all of the point symmetry groups. The technique is based on studying the spatial distributions of optical birefringence and optical indicatrix rotation angle induced along the chords and diameters of a crystalline disk compressed along its diameter.

Keywords: piezooptic effect, 2D stress state, crystals, crystalline disk

PACS: 78.20.Hp, 78.20.Ci
UDC: 535.55+53.082.5
Ukr. J. Phys. Opt. 15 84-95
doi: 10.3116/16091833/15/2/84/2014
Received: 26.03.2014

Анотація. З метою виправлення помилок, присутніх у нашій попередній роботі (Savaryn V. et al. Ukr. J. Phys. Opt. 13 (2012) 82), ми повторно одержали основні феноменологічні співвідношення, що описують зміну оптичної анізотропії стиснутого вздовж діаметра кристалічного диска. На основі аналізу цих співвідношень представлено вдосконалений метод визначення п’єзооптичних коефіцієнтів p44, p55 і p66 для кристалів майже всіх груп симетрії. Метод базується на дослідженні просторового розподілу індукованих оптичного двозаломлення і кута повороту оптичної індикатриси вздовж хорд і діаметрів кристалічного диска, стиснутого вздовж його діаметра.

REFERENCES
  1. Narasimhamurty T S, Photoelastic and electrooptic properties of crystals. N. Y.: Plenum Press (1981). doi:10.1007/978-1-4757-0025-1
  2. Skab I, Smaga I, Savaryn V, Vasylkiv Yu and Vlokh R, 2011. Torsion method for measuring piezooptic coefficients. Cryst. Res. Technol. 46: 23–36. doi:10.1002/crat.201000495
  3. Vasylkiv Y, Savaryn V, Smaga I, Skab I and Vlokh R, 2011. On determination of sign of the piezooptic coefficients using torsion method. Appl. Opt. 50: 2512–2518. doi:10.1364/AO.50.002512
  4. Krupych O, Savaryn V and Vlokh R, 2014. Precise determination of full matrix of piezo-optic coefficients with a four-point bending technique: the example of lithium niobate crystals. Appl. Opt. 53: B1–B7. doi:10.1364/AO.53.0000B1
  5. Savaryn V, Skab I, Krupych O and Vlokh R, 2012. The method for measuring piezooptic coefficients of crystals using a crystalline disk loaded along its diameter. Ukr. J. Phys. Opt. 13: 82–123. doi:10.3116/16091833/13/2/82/2012
  6. Frocht M M, Photoelasticity. N. Y.: John Wiley (1946).
  7. Ajmera P K, Huner B, Dutta A K and Hartley C S, 1988. Simulation and observation of infrared piezobirefringent images in diametrically compressed semiconductor disks. Appl. Opt. 27: 752–757. doi:10.1364/AO.27.000752
(c) Ukrainian Journal of Physical Optics