|
doi:10.1103/PhysRevLett.76.1675 http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.76.1675 2. Xie Q, Madhukar A, Chen P, Kobayashi N, 1995. Phys. Rev. Lett. 75: 2542. doi:10.1103/PhysRevLett.75.2542 http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.75.2542 3. Holy V. Springholz G, Pinczolits M, Bauer G, 1999. Phys. Rev. Lett. 83: 356. doi:10.1103/PhysRevLett.83.356 http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.83.356 4. Quek SS, Liu GR, 2003. Nanotechnology 14: 752. doi:10.1088/0957-4484/14/7/311 http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/14/7/311 5. Wang X-D, Liu N, Shih CK, Govindaraju S, Holmes AL, 2004. Appl. Phys. Lett. 85: 1356. doi:10.1063/1.1784526 http://dx.doi.org/10.1063/1.1784526 6. Springholtz G, Holy V, Pinczolits M, Bauer G, 1998. Science 282: 734. doi:10.1126/science.282.5389.734 http://dx.doi.org/10.1126/science.282.5389.734 7. Meixner M, Schöll E, Schmidbauer M, Raidt H, Köhler R, 2001. Phys. Rev. B 64: 245307. doi:10.1103/PhysRevB.64.245307 http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.64.245307 8. Zhang K, Heyn Ch, Hansen W, Schmidt Th, Falta J, 2000. Appl. Phys. Lett. 76: 2229. doi:10.1063/1.126305 http://dx.doi.org/10.1063/1.126305 9. Wang ZhM, Holmes K, Mazur YuI, Salamo GJ, 2004. Appl. Phys. Lett. 84: 1931. 10. Mano T, Nötzel R, Hamhuis GJ, Eijkemans TJ, Wolter JH, 2004. J. Appl. Phys. 85: 109. doi:10.1063/1.1631069 http://dx.doi.org/10.1063/1.1631069 11. Saito H, Nishi K, Sugou S, Sugimoto Y, 1997. Appl. Phys. Lett. 71: 590. doi:10.1063/1.119802 http://dx.doi.org/10.1063/1.119802 |